泰森特试验机

Tessent®测试仪以最低的制造测试成本提供最高质量的确定性扫描测试。该解决方案使用获得专利的芯片内压缩技术来创建扫描模式集,该扫描模式集大大减少了自动测试设备上的测试数据量和缩短了测试时间。

特点和优点

  • 利用扫描模式对数字逻辑进行彻底的测试。
  • 通过高性能的ATPG算法和分布式处理快速生成模式。
  • 各种各样的故障模式,包括卡住,过渡,小延迟,多个检测提供彻底的缺陷覆盖。
  • 汽车级ATPG选项通过瞄准电池内部的缺陷,帮助实现零缺陷。在相邻单元之间,以及基于临界区分析的互连
  • 支持低管脚计数测试策略(只有一个扫描通道)。
  • 故障文件可以用特森特诊断泰森特·伊尔丁.

获奖技术

年度产品:电子产品2001。年度产品:电子产品


最佳测试:测试与测量世界2002。最佳测试:测试与测量世界


唐纳德·O佩德森奖——IEEE2006。唐纳德·O佩德森奖——IEEE


最佳测试:测试与测量世界二千零八.最佳测试荣誉奖:测试与测量世界


时间测试:测试与测量世界2009。时间测试:测试与测量世界

最佳测试:测试与测量世界二千零一十三.最佳测试赢家:Tessent®Testkompress®和Cell Aware ATPG


欧美地区之最二千零一十三.西部最佳获奖者:Tessent®Testkompress®和Cell Aware ATPG


IJTAG二千零一十三.ijtag赢家:IC设计工具


IJTAG二千零一十三.ijtag入围者:金鼠夹奖


埃里克特拉二千零一十三.Elektra获奖者:采用细胞感知技术的Tessent Testkompress

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