泰森特纪念馆

Tessent®内存列表为高速测试提供了完整的解决方案,诊断,以及嵌入式存储器的修复。解决方案的架构是分层的,允许将BIST和自我修复功能添加到单个核心以及顶层。

Tessent MemoryList包含一个独特的综合自动化流程,提供设计规则检查,测试计划,整合,并在RTL或门级别进行验证。

特点和优点

  • 快速自测试和自修复IP集成,以及嵌入式内存测试插入内核的重用,缩短上市时间。
  • 设计时算法编程允许质量改进和测试时间优化。
  • 现场算法编程提供全面的质量控制和测试时间权衡。
  • 基于行和列的内置修复分析减少了可修复内存的测试时间。
  • 基于片上eFuse的修复支持任何第三方可修复SRAM。
  • 支持分布在任意数量物理块上的任意数量的Power域。

选项

  • Tessent记忆库修复
  • Tessent存储器列表现场可编程

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Tessent Siliconisight®公司

由Tessent MemoryList创建的所有测试功能都由Tessent SilicionSight完全支持。®交互式诊断工具。泰森特硅视力

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