Tessent逻辑列表

Tessent®逻辑列表是业界领先的内置自测试解决方案,用于测试集成电路的数字逻辑元件。它包括针对纳米SoC设计的独特功能,可以降低测试成本,缩短上市时间,同时最大限度地提高测试质量。

Tessent LogicList是一个完全分层的解决方案,它为核心提供了完整的测试可移植性,并在整个产品生命周期中提供了完整的测试重用。

集锦

2010年——Tessent LogicList——时间的最终测试:测试与测量世界

  • 高转换故障覆盖率,信号完整性筛选,未删除缺陷的高覆盖率降低了字段返回。
  • 逻辑BIST结构的快速插入,减少测试调试时间,完全可重用的嵌入式测试插入内核缩短了上市时间。
  • 最低测试仪硬件要求降低测试成本。一种专利测试定时结构,用于有效的速度测试应用和功率控制。
  • 综合RTL或快速测试集成的门级自动化流程。高带宽伪随机测试模式在高n检测(缺陷覆盖)中的应用。
  • IEEE 1500–兼容的分布式测试访问体系结构和获得专利的核心共享隔离,用于分层测试集成。
  • 分层嵌入式解决方案表示核心的完整测试可移植性。
  • 提供完全测试复用在整个产品生命周期中。
  • 没有测试模式管理意味着对制造业的高度可预测的移交。

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泰森特测试公司

Tessent LogicList可以用作独立的测试策略,也可以与Tessent TestKompress®结合使用。这两个解的结合使得任何伪随机的组合都可以应用,确定性的,或压缩的确定性模式。这为实现最有效的测试时间与质量优化提供了最大的灵活性。泰森特试验机

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