特森特诊断

Tessent®诊断使失败的测试周期很有价值。利用布局感知和单元感知诊断技术,产品准确识别导致Tessent TestKompress®或Tessent Fastscan™模式无法通过制造测试的缺陷的位置和分类。

Tessent诊断使用来自制造测试的故障数据,扫描测试模式,以及设计信息。有了这些数据,Tessent诊断识别导致故障的缺陷的位置和分类。对制造测试失败的设备进行详细分析,可以大大减少故障分析工作,并实现诊断驱动的产量分析流程。

特点和优点

  • 通过有效地分类和定位导致制造测试失败的缺陷,加速故障分析。
  • 启用诊断驱动的产量分析流程。
  • 直接诊断泰森特测试公司压缩测试结果。
  • 布局感知功能提高了诊断结果的准确性和分辨率,并提供物理标注。
  • 可选的单元感知诊断可识别晶体管级的缺陷。
  • 关联诊断结果和关键特征分析口径模式匹配/口径分析仪.

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