混合信号试验

降低测试成本并测量模拟量,混合信号缺陷覆盖率

Tessent®混合信号测试解决方案独立于供应商和ATE,解决越来越多的SERDES接口和模拟,混合信号电路在今天的SOC设计。泰森特·塞尔斯特通过使用PC和GPIB控制的台式设备来表征,降低测试仪硬件需求。特森特叛逃测量模拟的缺陷覆盖率和缺陷容限,混合信号,和非扫描数字电路,并提供数据指导DFT的改进。

产品

泰森特·塞尔斯特

Tessent Serdest导师提供了完整的,参数化的多GB/s服务器的嵌入式测试。

特森特叛逃

Tessent®DefectSim是一款模拟晶体管级缺陷模拟器,混合信号(AMS)和非扫描数字电路。它测量缺陷覆盖率和缺陷容限。

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