测试产品套件

特森特®产品套装

Tessend结合了确定性扫描测试的特性,嵌入式模式压缩,内置自测试,专用嵌入式内存测试和修复,边界扫描,以及板级和系统级测试技术。

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量子半导体智能套件

量子半导体智能套件

用于STDF数据分析的量子半导体智能套件,异常检测和产量管理。

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测试设计与半导体数据分析

确保高测试覆盖率,加速成品率斜坡,提高质量和可靠性

导师的集成电路测试综合解决方案,包括帮助确保最高测试覆盖率的最佳类内测试设计工具和测试数据分析,提高成品率,提高成品的质量和可靠性。

集成电路测试

经检验的产品

面向测试的设计和逻辑的硅学习,存储器和混合信号装置。

量子半导体智能套件

半导体测试数据分析的全生命周期解决方案,从最初的设备特性到自动化的产量和质量管理。

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